| 型 號(hào)： | SU7000 |
| 所屬分類(lèi)： | 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 |
| 報(bào) 價(jià)： |  |
日立熱場(chǎng)掃描電鏡SU7000SU7000采用全新設(shè)計(jì)的探測(cè)器，使得對(duì)二次電子信號(hào)、背散射電子信號(hào)的檢測(cè)以及分離能力大大提升。SU7000通過(guò)新研發(fā)的樣品倉(cāng)以及檢測(cè)器系統(tǒng)，可在不改變WD的條件下更高效地接收各種信號(hào)，縮短了樣品觀察和分析的時(shí)間，提高了測(cè)試效率。它還標(biāo)配超大樣品倉(cāng)，增設(shè)了附件接口，可適用于各種樣品的觀察與分析。
日立熱場(chǎng)掃描電鏡SU7000
日立熱場(chǎng)掃描電鏡SU7000
SU7000采用全新設(shè)計(jì)的探測(cè)器，使得對(duì)二次電子信號(hào)、背散射電子信號(hào)的檢測(cè)以及分離能力大大提升。SU7000通過(guò)新研發(fā)的樣品倉(cāng)以及檢測(cè)器系統(tǒng)，可在不改變WD的條件下更高效地接收各種信號(hào)，縮短了樣品觀察和分析的時(shí)間，提高了測(cè)試效率。它還標(biāo)配超大樣品倉(cāng)，增設(shè)了附件接口，可適用于各種樣品的觀察與分析。
SU7000采用全新設(shè)計(jì)的探測(cè)器，使得對(duì)二次電子信號(hào)、背散射電子信號(hào)的檢測(cè)以及分離能力大大提升。SU7000通過(guò)新研發(fā)的樣品倉(cāng)以及檢測(cè)器系統(tǒng)，可在不改變WD的條件下更高效地接收各種信號(hào)，縮短了樣品觀察和分析的時(shí)間，提高了測(cè)試效率。它還標(biāo)配超大樣品倉(cāng)，增設(shè)了附件接口，可適用于各種樣品的觀察與分析。
日立熱場(chǎng)掃描電鏡SU7000
主要特點(diǎn)：
在相同WD的條件下，可同時(shí)實(shí)現(xiàn)二次電子、背散射電子觀察與X射線(xiàn)分析
多可同時(shí)實(shí)現(xiàn)6通道檢測(cè)與顯示
可配置18個(gè)附件接口
應(yīng)用領(lǐng)域：
金屬
復(fù)合材料
半導(dǎo)體器件
EBSP分析
